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半导体工厂AMC的控制

2014-11-14 14:56:29      点击:

新风:在室外空气中通常含有会对半导体生产工艺产生影响的不同种类、数量的化学污染物,如O3,SO2,NO和可挥发性VOCs,在沿海、工业或农业区域还会发现不同的污染物,如硼、NH3、CL2、H2S等。

循环风(回风):半导体工业中使用的主要气体有氮、氢、氧、氩、氦、硅烷、二氯硅烷、乙硅烷、氢化砷、磷化氢、乙硼烷、氨、氧化亚氮、氯化氢、三氟化氮、溴化氢、六氟化钨、三氟化氯等。这些气体中,除了氮、氢、氧、氦、氩以外的气体,均需要进行某种处理。

排风:有资料记载,半导体工业使用的化学物质有60种之多,使用量小但品种不少,因此排风的处理成为一个非常重要的问题。各种气休的处理方法见表

 

气体系列

气体名称

气体分子式

处理方法

硅系

硅烷

SiH4

吸附剂、触媒

二氯化烷

SiH2Cl2

乙硅烷

Si2H6

砷系

氢化砷

AsH3

磷系

膦(磷化氢)

PH3

硼系

乙硼烷

B2H6

卤素系

氯化氢

HCl

吸附剂

氯

Cl2

三氟化氯

ClF3

溴化氢

HBr

六氟化钨

WF6

氮氧化物

氧化亚氮

NO

氮化物

氨

NH3

 

AMC的控制现在已经完全和高科技生产厂房洁净环境管理需求相结合,其最适宜的控制分三个步骤(在步法):

第一:对厂房内外的空气质量进行评估,以确认目标污染物和可能对AMC控制系统运行产生影响的物质。

第二:选择一套合格的AMC控制系统。

第三:持续监测受控的环境和AMC控制系统的运行